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Haute Performance Test
S790 ATE Test Test Fonctionnel S500 DTec Series Test Diagnostique Electronique Gamme de produits UDA AOI - Inspection Optique Programme de test Clips de test CCR machine de dévernissage
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DiagnoSYS Group.......
Excelling in electronic test solutions worldwide
Haute Performance Test
Tous les points de test universels sont individuellement programmables en tension, temps de montés, et terminaison, avec une vitesse de test allant jusqu’à 40 MHz. La partie numérique peut être synchronisée sur une horloge externe pouvant monter à 80 MHz.
Notre puissant logiciel Computer Aided Test Engineering (CATETM) est le cœur du S790VXI, avec son environnement graphique interactif a base d’icônes. CATE fourni un kit très puissant et efficace d’outils de développement de programme de test et de diagnostic. La performance et la puissance du logiciel de génération de test groupé (cluster) permet de générer des programmes de test diagnostic, pour des groupes définis (cluster), en combinant les avantages des techniques de test variées : fonctionnel, in-situ, Boundary scan(Jtag), combiné, émulation de bus, etc.
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Le S790VXI, exceptionnel moyen de test permettant l’isolation rapide et précise des pannes, est dérivé des algorithmes de diagnostic expert ANALYST. ANALYST coordonne les phases du diagnostic, rassemble les données des fautes des clusters, dirige la remontée en sonde, collecte les informations sur les fautes in-situ et en final analyse toutes ces données pour trouver avec une grande précision la faute. Le dictionnaire statistique de fautes va au delà d’un dictionnaire de fautes en prenant en comptes les probables erreurs causées par des états inconnus. « Context-Dependent Probing réduit ainsi le temps le nombre d’utilisation de la sonde nécessaire à la recherche de la panne et LOCATOR assiste visuellement l’opérateur par son interface graphique à sonder les bons points de test. Travailler avec VALIDATOR permet ainsi à l’ingénieur de test d’effectuer un minimum de tâche pour localiser les pannes en évitant les erreurs de programmations et les longs délais.
En outré, le système de test prend en compte automatiquement toute la gestion des tâches au travers de PROCESSMANAGER. La nouvelle génération de S790VXI permet la réutilisation des anciens programmes de test et interface des testeurs S720 / S730 / S750 / S770/ S790. Cela pour assurer les utilisateurs de ces systèmes sans compromettre les investissements engagés dans le développement de programme de test et d’interface. De plus, une station de travail off-line CATE peut être utilisée pour générer des programmes de test pour le S700.
Notre puissant logiciel Computer Aided Test Engineering (CATETM) est le cœur du S790VXI, avec son environnement graphique interactif a base d’icônes. CATE fourni un kit très puissant et efficace d’outils de développement de programme de test et de diagnostic. La performance et la puissance du logiciel de génération de test groupé (cluster) permet de générer des programmes de test diagnostic, pour des groupes définis (cluster), en combinant les avantages des techniques de test variées : fonctionnel, in-situ, Boundary scan(Jtag), combiné, émulation de bus, etc.
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Le S790VXI, exceptionnel moyen de test permettant l’isolation rapide et précise des pannes, est dérivé des algorithmes de diagnostic expert ANALYST. ANALYST coordonne les phases du diagnostic, rassemble les données des fautes des clusters, dirige la remontée en sonde, collecte les informations sur les fautes in-situ et en final analyse toutes ces données pour trouver avec une grande précision la faute. Le dictionnaire statistique de fautes va au delà d’un dictionnaire de fautes en prenant en comptes les probables erreurs causées par des états inconnus. « Context-Dependent Probing réduit ainsi le temps le nombre d’utilisation de la sonde nécessaire à la recherche de la panne et LOCATOR assiste visuellement l’opérateur par son interface graphique à sonder les bons points de test. Travailler avec VALIDATOR permet ainsi à l’ingénieur de test d’effectuer un minimum de tâche pour localiser les pannes en évitant les erreurs de programmations et les longs délais.
En outré, le système de test prend en compte automatiquement toute la gestion des tâches au travers de PROCESSMANAGER. La nouvelle génération de S790VXI permet la réutilisation des anciens programmes de test et interface des testeurs S720 / S730 / S750 / S770/ S790. Cela pour assurer les utilisateurs de ces systèmes sans compromettre les investissements engagés dans le développement de programme de test et d’interface. De plus, une station de travail off-line CATE peut être utilisée pour générer des programmes de test pour le S700.